L’analyseur de front d’onde WaveMaster PRO 2 est utilisé pour l’analyse de production de masse de petites lentilles en plastique ou en verre.
Du fait de l’augmentation constante de la qualité, l’utilisation de la mesure de front d’onde devient nécessaire pour augmenter la qualité de sa production.
Les analyseurs de front d’onde WaveMaster PRO & PRO 2 Wafer sont capables d’analyser des plaquettes entières de lentilles avec un temps de mesure de 2s par lentille. Le changement de plaquette est très rapide pour permettre une analyse complète de la production de masse.
En ce qui concerne la technologie de mesure, les analyseurs de front d’onde WaveMaster PRO 2 et PRO 2 Wafer déterminent, avec un capteur Shack-Hartmann, le front d’onde à partir duquel divers paramètres sont dérivés. Une comparaison avec les données de conception est ensuite effectuée.
Caractéristiques des analyseurs de front d’onde WaveMaster PRO :
WaveMaster PRO 2 |
Mesure dans un plateau |
WaveMaster PRO 2 Wafer |
Mesure d’un wafer optique |
Configuration de mesure pour optique sphérique ou asphérique |
Mesure en transmission avec un point source |
Configuration de mesure pour optique plane |
Mesure en transmission avec faisceau collimaté |
Ouverture de l’échantillon |
0.5 mm … 14 mm (dépend de la taille iamge) |
Focale de l’échantillon |
-12 à +50mm |
Temps de mesure par optique |
|
Débit par heure |
≥ 1800 |
Nombre de lentilles par plateau |
Max. 148 |
Temps de changement du plateau |
10s |
Temps de changement du wafer + alignement |
< 2min |
Temps de réglage pour un nouveau design |
< 5min |
Longueur d’onde |
532 nm , 635 nm (other on request) |
Précision de mesure de front d’onde |
< λ/20 (RMS) |
Répétabilité |
< λ/200 (RMS) |
Dynamique |
> 2000 λ |
Fréquence de mesure |
Jusqu’à 12Hz |
Résolution latérale |
138*138 |